Beskrivelse
82-ES-2008-50 Lendemåling > Elektronisk ledemåling med mikroskop
ES-2008-50 Mikroskop 50x, spesialversjon for bruk i kombinasjon med elektronisk vekt (versjon ES)
Mikroskop, ES-2008 til 50, 50x
7 017 kr
82-ES-1000
82-ES-1300
82-ES-1500
82-ES-500
82-ES-800
82-ESM-25-1000
82-ESM-25-1300
82-ESM-25-1500
82-ESM-25-500
82-ESM-25-800
82-ESM-50-1000
82-ESM-50-1300
82-ESM-50-1500
82-ESM-50-500
82-ESM-50-800
Tilleggsinformasjon
| Produkttype | |
|---|---|
| Forstørrelsesintervall |
Relaterte produkter
-
82-ESM-25-180Elektronisk målelinjal, ESM-25-serien, måleområde 180 mm, med mikroskop med 25x forstørrelse
Call for Price -
82-ESM-25-1000
Elektronisk målelinjal, ESM-25-serien, måleområde 1000 mm, med mikroskop med 25x forstørrelse
Call for Price -
82-ESM-25-1300
Elektronisk målelinjal, ESM-25-serien, måleområde 1300 mm, med mikroskop med 25x forstørrelse
Call for Price -
82-ESM-50-1000
Elektronisk målelinjal, ESM-50-serien, måleområde 1000 mm, med mikroskop med 50x forstørrelse
Call for Price
Omtaler
Det er ingen omtaler ennå.