Dino-Lite EDGE PLUS, 1,3 Megapixel, geringe Vergrößerung 10~50x für Makroanwendungen, IR-LEDs 940nm, Messfunktion, Metall

87,31 

Artikelnummer: 43-AM4117MTW-FJ Kategorien: ,
 

Beschreibung

Das AM4117MTW-FJ ist mit 940-nm-LEDs ausgestattet und eignet sich für die Untersuchung von Oberflächen, die unter Infrarotlicht deutliche optische Eigenschaften aufweisen. Dieses Mikroskop ermöglicht die Bildaufnahme auf Makroebene mit Zoomfunktion, was eine detaillierte Beobachtung eines breiten Spektrums an Objekten ermöglicht.

Arbeitsabstand/Sichtfeld/Tiefenschärfe

T-Zone

M WD FOV (x) FOV (y) DOF
50 21 8 6 3
40 42 10 7 6
30 71 13 10 11
20 127 20 15 26
15 183 26 20 47

W-Zone

M WD FOV (x) FOV (y) DOF
30 20 13 10 7
20 33 20 15 14
15 48 26 20 24
10 77 39 29 54
5 166 78 59 266

Spezifikation

Beleuchtung
Licht/LED-Typ 940 nm LED
Optik
Vergrößerung 10x bis 50x
Sensor
Auflösung 1,3 Megapixel (1280 x 960)
Maximale Bildrate 30 fps bei 1,3 MP, MJPEG 30 fps bei VGA, MJPEG
Kompatibilität
Schnittstelle USB 2.0
Betriebssystem Windows 10/11 macOS oder neuer
Gehäuse
Vergrößerungssperre Ja
Maße 104 mm (H) x 32 mm (D)
Gewicht Ca 89 g
Kabellänge Ca 1,8 m
Funktionen
Messung Ja
Kalibrierung Ja
Microtouch-Sensor Ja
Information
Lieferumfang Mikroskop, Tragetasche, Kalibriermaß, Bedienungsanleitung, N3C-O- offenes Deckel, N3C-C- geschlossenes Deckel, N3C-D- Diffusordeckel, N3C-E- Verlängerungsdeckel, N3C-L- langes Deckel, N3C-S- Seitenlichtdeckel
Garantieinformationen 2 Jahre europäische Garantie
Zulassungen CE, FCC, ROHS
Preisspanne

Zusätzliche Informationen

Anschluss

Beleuchtung

Fokusabstand

Metallgehäuse

Produkttyp

Vergrößerung

,

Auflösung

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